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產品特性
采用白光共聚焦色差技術，可獲得納米級的分辨率
測量具有非破壞性，測量速度快，精.確度高
測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋 光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒…)；
尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
不受環境光的影響
測量簡單，樣品無需特殊處理
Z方向,測量范圍大：為27mm
主要技術參數
掃描范圍：50×50（mm）
掃描步長：0.1μm
掃描速度：20mm/s
Z方向測量范圍：27mm
Z方向測量分辨率：2nm
產品應用
MEMS、半導體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等。
電話：021-33688380 傳真：021-33688619 郵編：200233 地址：上海徐匯區宜山路705號科技大廈A座501B室
滬公網安備 31010402004488號
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