日期和時間：
2018年3月29日 周四
上午9:30-10:30
報名網(wǎng)址：http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting_3457.html
參與我們的的網(wǎng)絡(luò)研討會，助您了解納米科學(xué)研究領(lǐng)域的*前沿應(yīng)用:
原子力顯微鏡納米級模量表征新技術(shù)及應(yīng)用
Park Systems的應(yīng)用科學(xué)家石雯晴博士將為大家介紹用Park的Pinpoint力模式進(jìn)行AFM納米模量表征，石博士將為大家探究懸臂剛度和其施加的力對測量模量的影響。
Pinpoint力模式可獲取關(guān)于納米力學(xué)表征的*清晰分辨率和精度，并實(shí)時同步獲得剛度，彈性模量以及粘附力。當(dāng)XY掃描器停止工作時，高速的力-距離曲線可在針尖和樣品的接觸時間里被良好控制。根據(jù)可控制的數(shù)據(jù)采集時間， PinPoint?納米力模式可在多種樣品表面以高信噪比優(yōu)化納米力測量。
石雯晴博士作為Park Systems的應(yīng)用科學(xué)家，將為大家介紹PinPoint納米力模式，為大家展示使用各種剛度值懸臂探針的效果，并展示從實(shí)際樣品中獲取的納米力學(xué)表征數(shù)據(jù)。
PinPoint納米力模式是基于原子力顯微鏡的一項新技術(shù)， Park Systems開發(fā)了PinPoint納米力學(xué)模式，它比技術(shù)至少快100倍。該技術(shù)可以在幾分鐘內(nèi)獲得一張彈性圖和同樣位置的形貌圖。該模式是一種可以獲取從硬盤到軟組織等各種材料的實(shí)時形貌像和定量力學(xué)性質(zhì)新型應(yīng)用技術(shù)。
