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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	鹵素水分測定儀 HS153	HS153鹵素水分測定儀具有快速獲得結果，直觀的顯示測定信息等特點，確保在實驗室和生產現(xiàn)場迅速獲得可重復的測量結果。
	紅外水分測定儀 MJ33	MJ33紅外水分測定儀是日常測定的好選擇，特別適用于工業(yè)環(huán)境，如：原料入庫的水分含量測定。MJ33紅外水分測定儀采用金屬加熱單元和簡便的操作確保無差錯的樣品水分快速測定，簡化了日常水分測定的工作。
	鹵素水分儀 HB43-S	HB43-S鹵素水分儀，適用于實驗室和生產現(xiàn)場，是結合鹵素燈加熱技術和分析能力的一款緊湊型儀器。HB43-S鹵素水分儀，具有好的重現(xiàn)性的水分測定結果，存儲100種不同樣品水分測定方法數(shù)據(jù)庫。
	自動熔點測定儀 MP50/MP70/MP90	梅特勒-托利多熔點儀系統(tǒng)-自動熔點測定儀 MP50/MP70/MP90，您可非常準確地測定熔點或熔程。而且，自動熔點測定儀 MP50/MP70/MP90具備更多功能：通過視頻觀察可研究顏色變化、濁點和分解溫度。
	熱臺HS82和DSC熱臺HS84 HS82, HS84	熱臺HS82和DSC熱臺HS84顯微鏡系統(tǒng)是用圖像表征各種熱轉變過程的強大工具。它能夠直接觀察樣品在加熱或冷卻過程中的晶態(tài)變化。還可以觀察到結晶過程中形狀、結構、顏色以及大小和數(shù)量的變化。熱臺HS82和DSC熱臺HS84技術可以表征相轉變并且還提供有關收縮和膨脹行為的信息。
	微量天平 XP系列	梅特勒-托利多XP2U/XP6，XP系列微量天平/超微量天平在處理昂貴、易分解或者有毒物質時，盡可能減少樣品使用量意味著可以降低成本。而XP26/XP56微量天平/超微量天平適用于將微量樣品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免樣品轉移過程中的誤差和浪費。XP系列微量天平有多種款型可選擇。
	XP系列微量天平 XP26/56/26DR/56DR/XP6/XP2U/XP6	梅特勒-托利多XP系列微量天平包括XP26/56/26DR/56DR/XP6/XP2U/XP6微量天平/超微量天平，在處理昂貴、易分解或者有毒物質時，盡可能減少樣品使用量意味著可以降低成本。而XP26/XP56微量天平/超微量天平特別適用于將微量樣品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免樣品轉移過程中的誤差和浪費。
	XP6002S DeltaRange 精密天平 XP6002S精密天平	八個獨立設置的用戶界面，用戶管理定義訪問權限，密碼保護，歷史文件，*小稱量值功能，專業(yè)級全自動校準技術proFACT專業(yè)級全自動校準技術。
	快速鹵素水分儀 HX204	HX204快速鹵素水分儀是一種可快速簡單地測定水分的解決方案，并且測量結果精準可靠。HX204快速鹵素水分儀易使用，無需使用化學制品或專業(yè)實驗室人員照看，測量結果與通過KF滴定法所取得的結果一致。總而言之，HX204鹵素水分測定儀是快速方便地在工廠車間和質量控制實驗室精準測定水分含量的好選擇。
	卡爾費休水分儀卡爾費休-水分儀	水分含量的多少是物質的一項重要的質量指標，因此水分的定量分析是各類物質理化分析的基本項目之一。卡爾費休水分儀測量時，只與樣品中游離的水發(fā)生反應，所以卡爾費休測量方法對水有很好的選擇性，同時還具有寬的水分測量范圍。因此利用卡爾費休方法測量水分的結果非常準確。
	pH計離子計/電導率儀/溶氧儀 pH計/離子計/電導率儀/溶氧儀	設計精致的梅特勒-托利多實驗室儀表采用精準的電化學測量技術，針對您的各種應用需求提供解決方案。pH計/離子計/電導率儀/溶氧儀，可用于測量pH、電導率、離子濃度、溶氧。
	DSC差示掃描量熱儀 DSC1,DSC2	由于采用了模塊化設計，DSC差示掃描量熱儀作為METTLER TOLEDO 熱分析超越系列的一個組成部分，是人工或自動操作的較佳選擇，適用于從生產到質量保證和技術研發(fā)。差示掃描量熱儀DSC配備56對或120對熱電偶的DSC傳感器，確保靈敏度。
	高壓差示掃描量熱儀HP DSC 高壓差示掃描量熱儀HP DSC	高壓差示掃描量熱儀HP DSC 基于DSC 技術，采用FRS5和HSS8傳感器，保證了其**的性能。它可在0-10 MPa的壓力范圍內，從室溫至700 ?C進行測試。加壓將影響所有伴隨發(fā)生體積改變的物理變化和化學反應。在材料測試、工藝開發(fā)或質量控制中，經常需要在壓力下進行DSC測試，高壓差示掃描量熱儀HP DSC是根據(jù)客戶的測試要求而開發(fā)出來的產品。
	DSC光量熱儀(UV-DSC) 光量熱儀UV-DSC	DSC光量熱儀(UV-DSC)組件與DSC 組合使用，可以使DSC的使用范圍擴展到光固化領域，研究光引發(fā)的反應。DSC光量熱儀(UV-DSC)可以測定材料在不同的溫度下用一定的波長照射不同的時間段時發(fā)生的、以及照射后所發(fā)生的焓變。
	顯微/化學發(fā)光掃描量熱儀 DSC/ HP DSC	顯微/化學發(fā)光掃描量熱儀為DSC 或HP DSC 與裝備有視頻和照相技術的顯微鏡的合成系統(tǒng)能夠對樣品在DSC中加熱或冷卻過程中進行光學觀察。這些光學信息對于在DSC曲線中測量到的現(xiàn)象作出解釋通常是很有用的。顯微/化學發(fā)光掃描量熱儀是在DSC基礎上進行擴展的新技術。
	閃速差示掃描量熱儀 Flash DSC	閃速差示掃描量熱儀Flash DSC是快速掃描量熱儀，該技術能分析之前無法測量的結構重組過程。閃速差示掃描量熱儀Flash DSC與常規(guī)DSC是互補工具，升溫速率達到7個數(shù)量級范圍，*高升溫速率可達到2,400,000 K/min。
	熱重/同步差熱分析儀 TGA/DSC 2	熱重分析儀TGA 的核心是天平。我們的 TGA 儀器使用梅特勒-托利多微量和超微量天平。利用三種可拆卸傳感器中的一種，熱重/同步差熱分析儀TGA/DSC 2 可同時測量熱流量以及重量變化。采用模塊化設計，熱重/同步差熱分析儀TGA/DSC 2是人工或自動操作儀器。
	熱重分析儀TGA TGA1	熱重分析儀TGA 的核心是天平。熱重分析儀TGA使用梅特勒-托利多微量和超微量天平。由于采用模塊化設計，TGA可以手動或自動控制，是一款應用于從研發(fā)、生產到質量保證的儀器。
	熱機械分析儀TMA TMA/SDTA 1	熱機械分析儀TMA是測量樣品在非振動負荷下，隨溫度或時間變化而變化的形變的技術。梅特勒的熱機械分析儀TMA，型號TMA/SDTA 1可在對樣品進行TMA測量的同時測量差熱變化（SDTA）。還具備動態(tài)負載熱機械分析（DLTMA）模式，負載能周期性變化，測量樣品的楊氏模量。
	動態(tài)熱機械分析儀DMA1 動態(tài)熱機械分析儀DMA1	動態(tài)熱機械分析儀DMA1是測量樣品在周期振動應力下，隨溫度或頻率變化而變化的力學性能和粘彈性能的技術。梅特勒-托利多動態(tài)熱機械分析儀DMA1具有獨特的特征和優(yōu)點。

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